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      低溫環(huán)境試驗(yàn)-高低溫沖擊試驗(yàn)操作流程

      瀏覽次數(shù):0 | 2021-08-05 09:44

      億博CE認(rèn)證機(jī)構(gòu)一個(gè)專業(yè)全面的、經(jīng)驗(yàn)豐富的認(rèn)證服務(wù)機(jī)構(gòu),已有超過十年的檢測(cè)認(rèn)證經(jīng)驗(yàn),擁有資深技術(shù)團(tuán)隊(duì)為您提供全方位檢測(cè)認(rèn)證需求,服務(wù)熱線:135-4327-2595


        高低溫振動(dòng)沖擊項(xiàng)目,高低溫試驗(yàn)條件及檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)是什么?高溫試驗(yàn)是把試樣暴露在高溫且空氣干燥的環(huán)境中進(jìn)行的試驗(yàn),其目的是確定軍民用設(shè)備在高溫條件下儲(chǔ)存和工作的適應(yīng)性。高溫試驗(yàn)的標(biāo)準(zhǔn)有GJB150.3-86、GB11606.4-89。
       
        高低溫測(cè)試主要針對(duì)的范圍包括電工、電子產(chǎn)品,以及其原器件,及其它材料,測(cè)試的嚴(yán)格程度取決于高低溫呢的溫度和持續(xù)測(cè)試時(shí)間。高低溫溫可能使產(chǎn)品過熱,影響使用安全可靠性試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于高/低溫、濕度和曝露持續(xù)時(shí)間。高低溫測(cè)試高溫試驗(yàn)詳細(xì)介紹:本試驗(yàn)是用來確定產(chǎn)品在高溫氣候環(huán)境條件下儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。
       
      低溫環(huán)境試驗(yàn)-高低溫沖擊試驗(yàn)操作流程
       
        高低溫沖擊試驗(yàn)操作流程:
       
        測(cè)試項(xiàng)目:低溫、高溫測(cè)試
       
        測(cè)試標(biāo)準(zhǔn):GB/T2423.1-2008、GB/T2423.2-2008
       
        測(cè)試樣品:電工電子產(chǎn)品
       
       ?。ǖ蜏剡\(yùn)行、低溫貯存)試驗(yàn)的目的是檢驗(yàn)試件能否在長期的低溫環(huán)境中儲(chǔ)藏、操縱控制,是確定軍民用設(shè)備在低溫條件下儲(chǔ)存和工作的適應(yīng)性及耐久性。低溫下材料物理化學(xué)性能。標(biāo)準(zhǔn)中對(duì)于試驗(yàn)前處理、試驗(yàn)初始檢測(cè)、樣品安裝、中間檢測(cè)、試驗(yàn)后處理、升溫速度、溫度柜負(fù)載條件、被測(cè)物與溫度柜體積比等均有規(guī)范要求。主要用于科研研究、醫(yī)遼用品的保存、生物制品、遠(yuǎn)洋制品、電子元件、化工材料等特殊材料的低溫實(shí)驗(yàn)及儲(chǔ)存。
       
        低溫條件下試件的失效模式:產(chǎn)品所使用零件、材料在低溫時(shí)可能發(fā)生龜裂、脆化、可動(dòng)部卡死、特性改變等現(xiàn)象。
       
        低溫環(huán)境對(duì)設(shè)備的主要影響有:
       
        a.使材料發(fā)硬變脆;
       
        b.潤滑劑粘度增加,流動(dòng)能力降低,潤滑作用減小;
       
        c.電子元器件性能發(fā)生變化;
       
        d.水冷凝結(jié)冰;
       
        e.密封件失效;
       
        f.材料收縮造成機(jī)械結(jié)構(gòu)變化。
       
        低溫測(cè)試目的:用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低溫環(huán)境下使用、運(yùn)輸或貯存的能力。
       
        低溫測(cè)試的溫度有:
       
        -65℃
       
        -55℃
       
        -50℃
       
        -40℃
       
        -33℃
       
        -25℃
       
        -20℃
       
        -10℃
       
        -5℃
       
        +5℃
       
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      胡玲

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